葉面積指數(shù)是什么

葉面積指數(shù)一般是描述植植物冠層結(jié)構(gòu)和能量吸收能力的關(guān)鍵參數(shù)之一。葉面積指數(shù)可以用于量化植被的光合作用效率和水分利用效率，并且是全球變化研究和生態(tài)學(xué)模型的重要變量。因此，我們應(yīng)該如何測(cè)定葉面積指數(shù)呢？

葉面積指數(shù)的測(cè)定方法有哪些？

1、點(diǎn)接觸法：點(diǎn)接觸法是用細(xì)探針以不同的高度角和方位角刺入冠層，然后記錄細(xì)探針從冠層頂部到達(dá)底部的過(guò)程中針尖所接觸的葉片數(shù)目。

2、消光系數(shù)法：該法通過(guò)測(cè)定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)該法通過(guò)測(cè)定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)相關(guān)的參數(shù)來(lái)計(jì)算葉面積指數(shù)。

3、經(jīng)驗(yàn)公式法：經(jīng)驗(yàn)公式法利用植物的胸徑、樹(shù)高、邊材面積、冠幅等容易測(cè)量的參數(shù)與葉面積或葉面積指數(shù)的相關(guān)關(guān)系建立經(jīng)驗(yàn)公式來(lái)計(jì)算。

4、遙感方法：衛(wèi)星遙感方法為大范圍研究LA I提供了有效的途徑。主要有2種遙感方法可用來(lái)估算葉面積指數(shù)，一種是統(tǒng)計(jì)模型法。另一種是光學(xué)模型法。

5、光學(xué)儀器法：光學(xué)儀器法按測(cè)量原理分為基于輻射測(cè)量的方法和基于圖像測(cè)量的方法。

6、儀器測(cè)定法：一般是采用葉面積指數(shù)測(cè)定儀，它采用比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理，通過(guò)魚(yú)眼鏡頭成像和CCD圖像傳感器測(cè)量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層圖像，利用軟件對(duì)所得圖像和數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計(jì)算，得出冠層相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。具有準(zhǔn)確、省時(shí)省力、快捷方便的特點(diǎn)。具體地葉面積指數(shù)測(cè)定可測(cè)量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過(guò)率、不同太陽(yáng)高度角下的直射輻射透過(guò)率、不同太陽(yáng)高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等。